AEAR テストシステムはGANデバイステストシステム向けに、GAN半導体向けにキーの半導体命令を発令する. Aehr Test Systems lands key automotive semiconductor order for its GaN device testing system.

AEHERテストシステムでは,FOX-XP -Waf-レベルテスト及び焼却システムの主要な半導体供給装置から,FOX-XP-Waper-Developyの初期生産命令を受託した. Aehr Test Systems received an initial production order for its FOX-XP wafer-level test and burn-in system from a leading automotive semiconductor supplier. このシステムは,自動車,太陽光,データセンターのアプリケーションで使用されるガリウム窒素 (GaN) デバイスのために設計されており,すぐに出荷を開始します. The system, designed for gallium nitride (GaN) devices used in automotive, solar, and data center applications, will begin shipping soon. GANの機器は著しく増加すると予想されており,市場は2029年までに25億円に達すると予想されている. GaN devices are expected to grow significantly, with the market projected to reach $2.5 billion by 2029.